課程背景curriculum background  

    隨著IT行業(yè)電子產(chǎn)品的種類日漸增多,競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈。所以如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為最為重要的部分。硬件測(cè)試是電子產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開(kāi)展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子企業(yè)所追求的目標(biāo)。
    本課程從測(cè)試的理論出發(fā),結(jié)合實(shí)際的產(chǎn)品測(cè)試經(jīng)驗(yàn),介紹了測(cè)試的目的、原理、流程和實(shí)際應(yīng)用操作,并將測(cè)試同研發(fā)、銷售和公司的市場(chǎng)推廣進(jìn)行結(jié)合,以更貼近企業(yè)的形式闡述了硬件測(cè)試在企業(yè)中的開(kāi)展方法。

課程大綱curriculum introduction

• 硬件測(cè)試概述

①硬件測(cè)試的目的
②硬件測(cè)試的意義
③目前業(yè)界硬件測(cè)試的開(kāi)展情況
④在企業(yè)生產(chǎn)價(jià)值鏈中的地位
⑤硬件測(cè)試對(duì)公司形象和公司發(fā)展的重要性

• 測(cè)試準(zhǔn)備
  ①檢視
  ②FMEA（故障模式影響分析）
  ③故障處理
  ④測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例
• 硬件測(cè)試種類與操作
  ①指標(biāo)測(cè)試
  ②功能測(cè)試
  ③容限測(cè)試
  ④容錯(cuò)測(cè)試—FIT
  ⑤長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試
  ⑥可靠性數(shù)據(jù)預(yù)計(jì)
  ⑦一致性測(cè)試
  ⑧評(píng)審

四、硬件測(cè)試的級(jí)別
①黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試
②單元測(cè)試
③系統(tǒng)測(cè)試

• 可靠性測(cè)試
   ①EMC
   ②環(huán)境
   ③安規(guī)
   ④老化
• 測(cè)試問(wèn)題
  ①測(cè)試問(wèn)題的確認(rèn)
  ②測(cè)試問(wèn)題的定位
  ③測(cè)試問(wèn)題反饋方式和流程
  ④測(cè)試問(wèn)題跟蹤和解決流程
• 測(cè)試效果評(píng)估
  ①測(cè)試報(bào)告
  ②評(píng)審歸檔
  ③案例和checklist
  ④測(cè)試方法總結(jié)
  ⑤遺留問(wèn)題處理
  ⑥市場(chǎng)規(guī)模應(yīng)用跟蹤
  ⑦產(chǎn)品故障率統(tǒng)計(jì)

八、測(cè)試規(guī)范制定
①建立規(guī)范的重要性
②需要哪些規(guī)范
③規(guī)范的制定準(zhǔn)則

• 測(cè)試人員的等級(jí)認(rèn)證
  《硬件測(cè)試技術(shù)》
• SI簡(jiǎn)介
  ①SI的重要性
  ②學(xué)習(xí)SI的目的
  ③SI的內(nèi)容
  ④理想邏輯電壓波形
  ⑤實(shí)際邏輯波形
  ⑥數(shù)據(jù)采樣及時(shí)序的例子
• 常見(jiàn)的SI問(wèn)題
  ①信號(hào)質(zhì)量與時(shí)序的關(guān)系
  ②最常見(jiàn)的三種信號(hào)問(wèn)題
  ③反射
  ④串?dāng)_
  ⑤電源/地噪音
  ⑥EMC/EMI跟SI關(guān)系
  ⑦SI問(wèn)題的影響
  ⑧產(chǎn)生SI問(wèn)題的地方
  ⑨工藝與頻率的關(guān)系
  ⑩工藝與SI的關(guān)系

十二、SI分析
①在設(shè)計(jì)流程中的SI分析
②前期分析
③后期分析
④SI工程師的重要性
⑤SI分析原則
⑥集中式電路和分布式電路模型

• 如何選擇模擬電路模型
  ⑧例子

十三、電子設(shè)計(jì)中的SI問(wèn)題
①上升時(shí)間和信號(hào)完整性
②傳輸線的種類
③反射產(chǎn)生原因
④如何消除反射
⑤串?dāng)_產(chǎn)生原因
⑥如何消除串?dāng)_
⑦電源/地噪音的種類
⑧電源/地噪音的副作用
⑨如何消除電源/地噪音
⑩電源/地模型

十四、建模與仿真
①幾種常見(jiàn)的電磁建模技術(shù)
②好的SI仿真工具應(yīng)具備那些因素
③常見(jiàn)的SI工具

十五、信號(hào)完整性的例子
①舉例模型
②SI分析
③仿真結(jié)果
④噪音來(lái)源及解決辦法
 

講師資歷lecturer synopsis

程老師- - -上海世立特聘講師   研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān)

APECG測(cè)試工程首席專家

中國(guó)電子協(xié)會(huì)ATE測(cè)試分會(huì)會(huì)員.

工作經(jīng)驗(yàn)：

 華為公司從事通訊產(chǎn)品可測(cè)試設(shè)計(jì)的研究及開(kāi)發(fā)工作，曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會(huì)議電視系統(tǒng)項(xiàng)目的可測(cè)試及可制造性工程實(shí)施，歷任華為中央硬件研發(fā)平臺(tái)部開(kāi)發(fā)經(jīng)理，兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理。

工作專長(zhǎng)：

測(cè)試工程、工藝工程、硬件工程。

項(xiàng)目實(shí)踐：

曾作為兆天網(wǎng)絡(luò)、UT斯達(dá)康、邁瑞、核達(dá)中遠(yuǎn)通、飛通光電、桑達(dá)龍金可測(cè)性工程咨詢首席顧問(wèn)，具體包括在研發(fā)體系中如何通過(guò)可測(cè)性工程實(shí)施來(lái)提高產(chǎn)品可測(cè)試性。